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產(chǎn)品中心光譜系統(tǒng)顯微缺陷膜厚
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●可測量稀薄溶液~濃厚溶液的ZETA電位和粒徑，并可進(jìn)行分子量測量的檢測裝置。 ●適用于粒徑測量范圍（0.6nm~10um）,濃度范圍（0.00001%~40%）。
更新時間：2025-12-24
產(chǎn)品型號：
瀏覽量：962
利用顯微微分光膜厚計OPTM series的高精度、微小光點(diǎn)，在線提供制作晶片圖案后的微小區(qū)域測量等膜厚信息。
更新時間：2025-12-24產(chǎn)品型號：瀏覽量：747
●Φ支持到300mmEFM單元備用端口的集成 ●實(shí)現(xiàn)嵌入在晶片中的布線圖案的圖案對齊 ●支持半導(dǎo)體工藝的高吞吐量要求 ●支持槽口對齊功能 ●小尺寸規(guī)格 ●高精度自動校準(zhǔn)單元
更新時間：2025-12-24產(chǎn)品型號：瀏覽量：844
ZETA電位 · 粒徑 · 分子量測試系統(tǒng)可測量濃度低的溶液～濃度高的溶液的ZETA電位?粒徑及分子量。
更新時間：2025-12-24產(chǎn)品型號：ELSZ-2000系列瀏覽量：9108
QE-2000熒光量子效率測試系統(tǒng)瞬間測量絕.對量子效率。適用于粉末、溶液、固體（膜）、薄膜樣品的測量。通過低雜散光多通道分光檢出器，大大減少了紫外區(qū)域 的雜散光。
更新時間：2025-12-24產(chǎn)品型號：QE-2000瀏覽量：2743公司郵箱： qgao@buybm.com
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